紫外线辐射测量仪 EXTECH SDL470

规格：
量程：
UVA：2mW/cm2、20mW/cm2
分辨率：0.001mW/cm2
精度：±4% FS
UVC：2mW/cm2 ，20mW/cm2
分辨率：0.001mW/cm2
精度：±4%FS
频率带宽：365nm（UVA）； 254nm (UVC)
K型温度：-148至2372 °F（-100至1300 °C）
分辨率：0.1 °F / °C
精度：±（0.4% ± 1.8 °F / 1 °C)
温度模型 J：-148 至 2192 °F（-100 至 1200 °C）
分辨率：0.1 °F / °C
精度：± ( 0.4% ± 1.8 °F / 1 °C)
数据记录模式：SD 存储卡，选择采样时间：1 至 3600 秒
尺寸：7.2 x 2.9 x 1.9 英寸（182 x 73 x 47.5 毫米）
重量：16.2盎司（475克）
配件：SD存储卡、UVA、UVC传感器、交流电源适配器、AA电池x 6、手提箱。